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摩檸Morning>试卷(2015/02/09)

化學-無機物檢驗題庫 下載題庫

03002 化學─無機物檢驗 甲級 工作項目 03:無機儀器分析 51-109#19248 

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1.51. AAS 空氣丙烷火焰法適合分析下列何元素
(A)銀
(B)鈉
(C)鉻
(D)鋁。
2.52. 以原子光譜法分析金屬,何者受火焰穩定度之影響較大?
(A)吸光法
(B)火焰光度法
(C)螢光法
(D)影響程度相同。
3.53. 以 AAS 分析鋁時,採用何種火焰為宜?
(A)空氣-丙烷
(B)空氣-乙炔
(C)笑氣-乙炔
(D)空氣-氫氣。
4.54. 以火焰光度法分析鈉時,採用何種火焰為宜
(A)空氣-乙炔
(B)笑氣-乙炔
(C)空氣-丙烷
(D)空氣-氫氣。
5.55. 原子吸光法較火焰光度法靈敏度高之主因為?
(A)於典型火焰溫度下,基態原子數遠高於激發態
(B)吸光法使 用之偵檢器感度較高
(C)中空陰極管之輻射強度較火焰為強
(D)由於都卜勒效應使得吸收線寬度較發射線為 窄。
6.56. 以 AAS 火焰法分析金屬時,其吸收譜線之寬度約為
(A)0.001nm
(B)0.01nm
(C)0.1nm
(D)1.0nm。
7.57. 原子吸收光譜儀與紫外可見光譜儀構造最相近之處在於
(A)光源
(B)單色光器位置
(C)樣品吸收元件
(D)偵檢器。
8.58. 以 AAS 空氣-乙炔火焰法分析金屬時,何種火焰之溫度最高
(A)中性焰
(B)還原焰
(C)氧化焰
(D)溫度相近。
9.59. 以 AAS 空氣-乙炔火焰法分析金屬時,何者非還原焰之特性?
(A)火焰呈黃色
(B)溫度較低
(C)干擾較小
(D)火焰 較不穩定。
10.60. 以 AAS 火焰法分析金屬時,通常以何法去除離子化干擾
(A)採用背景校正
(B)溶劑萃取
(C)採用較低溫之火焰
(D) 標準添加法。
11.61. AAS 火焰法中之光譜干擾,一般可用何種方式去除之
(A)改變火焰溫度
(B)標準添加法
(C)背景校正(重氫燈)10 去除
(D)加入釋放劑。
12.62. 以標準添加法分析水中重金屬,若原樣品之吸光度為 0.115,加入 1.0mg/L 後之吸光度為 0.180,加入 2.0mg/ L 後之吸光度為 0.243,若體積之變化可不計,則樣品之濃度為(mg/L)
(A)1.7
(B)1.8
(C)1.9
(D)2.0。
13.63. AAS 火焰法採標準添加時,可去除何種干擾
(A)分子吸收
(B)散射
(C)霧化效率之改變
(D)低揮發性化合物之形成。
14.64. 以光度法分析 SCN-與 Fe3+形成之紅色錯合物,應採用何種顏色之濾光鏡
(A)黃色
(B)綠色
(C)紅色
(D)藍色。
15.65. 以下有關光電倍增管之敘述,何者為正確?
(A)其感度較光電管為差
(B)每一光子約可產生 106 ~107電子
(C)可用 於正價粒子之檢測
(D)對低強度輻射無法檢出。
16.66. 某溶液含 X 成分,其濃度為 0.12mM,以 2.0cm 吸光槽測得其透過率為 0.11,當使用 1.0cm 吸光槽測得另一 溶液之透過率為 0.22 時,則其X之濃度為(mM)
(A)0.145
(B)0.165
(C)0.175
(D)0.185。
17.67. 某溶液含 X 成分,以 1.0cm 吸光槽測得其透過率為 0.70,當使用 2.0cm 吸光槽測得透過率為
(A)0.56
(B)0.49
(C)0. 35
(D)0.30。
18.68. 標準添加法在何條件下可補償樣品基質所造成之干擾
(A)標準之加入對樣品不致造成明顯稀釋作用且不形成 干擾物質
(B)標準之加入使干擾物之濃度降低
(C)因加入物中有某些物質可去除干擾
(D)因加入物中不含待測物 質。
19.69. Fe2+和 o-phenathroline 可形成錯合物,利用何種儀器可決定錯合物之分子式及形成常數
(A)紅外光譜儀
(B)紫外 可見光譜儀
(C)螢光光譜儀
(D)質譜儀。
20.70. 進行多波長測定時,下列何儀器具有最快之速度
(A)濾鏡光度計
(B)雙光束掃瞄式紫外可見光譜儀
(C)陣列光偶 極體光譜儀
(D)非分散干涉光譜儀。
21.71. 下列何儀器具最佳之光學解析度
(A)濾鏡光度計
(B)雙光束掃瞄式紫外可見光譜儀
(C)陣列光偶極體光譜儀
(D)非 分散干涉光譜儀。
22.72. 微差掃瞄分析(Differential Scanning Calorimeter, DSC)為測量試樣與參考物質的何者之差?
(A)溫度差
(B)質量差
(C)功率差
(D)體積差。
23.73. 一電解電池於陰極沉積銅,陽極產生氧,若以固定電流 0.5A 電解 20 分鐘,則沉積之銅量(g)為(Cu=63.5)
(A)0. 033
(B)0.098
(C)0.197
(D)0.395。 複選題:
24.74. 下列有關電位滴定法敘述,哪些正確
(A)在酸鹼滴定中,pH 玻璃電極常用為指示電極
(B)電位滴定法具有高準 確度、靈敏度高等優點
(C)在酸鹼滴定中,電位滴定法的靈敏度高於指示劑法
(D)弱酸、弱鹼以及多元酸(鹼) 無法以電位滴定法測量。
25.75. 下列哪些常作為電位測定法中的參考電極
(A)飽和甘汞電極
(B)銀/氯化銀電極
(C)鉑電極
(D)玻璃電極。
26.76. 下列有關紅外光光譜分析法的敘述,哪些正確
(A)常以氯化鈉或溴化鉀等鹽類做為視窗片的材料,
(B)視窗片 應注意避免受到水份侵蝕
(C)最常使用之波長範圍在 2.5 μm 至 50 μm
(D)一般用於鑑定化合物之結構。
27.77. 有關以銀電極電量測定法間接定量溶液中氯離子的敘述,下列哪些正確
(A)氯離子在此過程中進行氧化反應
(B)溶液中會產生氯化銀沉澱
(C)銀電極必須為陽極
(D)銀電極必須為陰極。
28.78. 下列有關離子層析法的敘述,哪些正確
(A)分離陽離子,可以鹽酸水溶液為沖提液
(B)分離陰離子,可以氫氧 化鈉水溶液為沖提液
(C)分離陰離子,可以碳酸氫鈉/碳酸鈉緩衝溶液為沖提液
(D)欲分離陽離子,可以氰甲烷 水溶液為沖提液。
29.79. 使用庫侖分析法時,下列哪些因子必須精確控制才能獲得正確結果
(A)電位
(B)電流
(C)電阻
(D)電荷。
30.80. 有關氫化反應原子吸收光譜法的敘述,下列哪些正確
(A)將酸化樣品溶液帶入含有氫氧化鈉溶液的玻璃容器 中,產生氫化物後再以氮氣帶入原子化室
(B)此法無法分析鎳元素
(C)以此方法分析砷,若未採石英管間接加 熱時,應採用空氣-氫氣火焰
(D)此法可測定銅。
31.81. 下列有關原子吸收光譜法的敘述,哪些正確
(A)可使用中空陰極管作為光源
(B)中空陰極管的陰極上塗有欲測 定的金屬元素
(C)中空陰極燈管只可測單一種元素
(D)多元素燈管的靈敏度通常較單管單元素佳。
32.82. 下列有關 AAS 火焰法分析金屬元素的敘述,哪些正確
(A)通常採用較低溫之火焰去除離子化干擾
(B)AAS 火焰 法中之光譜干擾,可改變火焰溫度以降低
(C)AAS 火焰法中之光譜干擾,可以背景校正法以降低
(D)AAS 空氣- 丙烷火焰法適合分析鈉元素。11
33.83. 下列有關離子選擇電極的應答時間,哪些正確
(A)濃試樣的應答時間比稀試樣長
(B)光滑的電極表面和較薄的 膜相可縮短應答時間
(C)共存離子會影響應答時間
(D)在一定溫度範圍內,升高溫度會縮短應答時間。
34.84. 下列有關離子選擇電極的敘述,哪些正確
(A)每次測量前都要清洗電極,使電位達定值,以避免記憶效應
(B) 進行測量時,需用磁攪拌器攪拌溶液,以減小濃度極化
(C)不一定有內參考電極與內參考溶液
(D)用於陰、陽 離子種類及含量測量。
35.85. 關於流動注入分析(FIA)系統的敘述,下列哪些正確
(A)乃是利用樣品注入閥將樣品溶液注入載送液中,並與 試劑混合反應後進行偵測
(B)FIA系統中最常使用的是蠕動式泵
(C)最常使用的為旋轉式樣品注入閥
(D)FIA常串 聯原子吸收光譜儀使用。
36.86. 有關極譜分析法的半波電位,下列敘述哪些正確
(A)半波電位是擴散電流為極限擴散電流一半時的電極電位
(B)半波電位相同的,都是同一種物質
(C)半波電位與其樣品溶液的組成有關
(D)半波電位是極譜定量分析的依 據。
37.87. 下列哪些是影響毛細管電泳分離之主要因素
(A)pH 值
(B)偵測器種類
(C)毛細管管徑
(D)操作電壓。
38.88. 下列哪些光譜分析法與發射無關?
(A)紫外光光譜分析法
(B)可見光光譜分析法
(C)螢光光譜分析法
(D)紅外光光 譜分析法。
39.89. 下列哪些方法可降低恆電位電解的濃差極化
(A)增加工作電極面積
(B)提高溶液的溫度
(C)加強機械攪拌
(D)降低 溶液的濃度。
40.90. 以電位分析法測定金屬物質時,可使用哪些電極
(A)汞
(B)鉑
(C)鎢
(D)塗佈薄汞膜的玻璃碳。
41.91. 欲以 AAS 火焰法分析水中鎘時,若溶液中含高濃度 NaCl 時,會形成下列哪些干擾
(A)分子吸收
(B)散射
(C)霧 化效率改變
(D)離子化干擾。
42.92. 熱重量分析法可提供下列哪些資訊
(A)判斷樣品的熱反應為吸熱或放熱
(B)由逸出氣體可了解樣品組成
(C)可分 析混合物樣品的組成及含量
(D)可量測樣品的質量改變。
43.93. 下列哪些方法可用來校正原子吸收光譜法中的背景干擾
(A)連續光源校正法
(B)Zeeman 效應法
(C)Smith- Hieftje 校正法
(D)加入內標物校正。
44.94. 以 AAS 火焰法分析金屬時,哪些可以去除化學性干擾
(A)加入釋放劑
(B)採用背景校正
(C)採用較高溫的火焰
(D) 採用較低溫的火焰。
45.95. 以原子發射光譜法進行元素定量分析時,下列哪些不是加入內標物的目的
(A)提高靈敏度
(B)提高準確度
(C)減 少化學干擾
(D)降低背景。
46.96. 下列有關極譜分析法的敘述,哪些錯誤
(A)加入支持電解質是為了消除遷移電流發生
(B)濃差極化的大小取決 於支持電解質的濃度
(C)濃差極化後,擴散電流的大小取決於離子的擴散速度
(D)極限擴散電流的大小與被分 析物質濃度無關。
47.97. 下列哪些元件伏安測定法會使用
(A)伏特計
(B)離子選擇電極
(C)電導計
(D)汞電極。
48.98. 下列哪些光譜方法適用於研究固體的表面組成
(A)AAS
(B)XRF
(C)NMR
(D)AES。
49.99. 下列哪些是原子螢光光譜法與 X 螢光光譜法的不同處
(A)光致發光
(B)光源
(C)單色器
(D)偵測器。
50.100. 在電解分析中,為使被測物質純淨、致密、堅固地沉積在電極上,可採用下列哪些措施
(A)控制適當的 pH 或 以錯合金屬離子形式電解
(B)升高溫度
(C)反應的電流密度不宜過小
(D)攪拌溶液。
51.101. 下列哪些是氣相層析儀的偵測器
(A)光散射偵測器
(B)熱傳導偵測器
(C)電漿原子偵測器
(D)火燄游離偵測器。
52.102. 下列有關離子分析儀器之敘述,哪些正確
(A)分離管柱大多填充有機離子交換樹脂
(B)一般使用電導度偵測器
(C)抑制管柱可降低訊號雜訊比
(D)可用以分析水中的陰陽離子。
53.103. 下列有關 HPLC 偵測器的敘述,哪些正確
(A)HPLC 最常用的偵測器為螢光偵測器
(B)HPLC 最常用的偵測器為 紫外光偵測器
(C)光二極體陣列偵測器適合用於開發新成分或是未知條件時使用
(D)在高波長(800 nm 以上),光 二極體陣列偵測器相對於光電倍增管準確度較差。
54.104. 下列有關層析分析樣品的敘述,哪些正確
(A)樣品注射前進行過濾,可避免阻塞
(B)樣品分析得到之訊號值(層 析高度、層析面積、電導度值)不需在標準品檢量線範圍內
(C)如樣品需稀釋,稀釋後得到之訊號值須由檢量 線公式換算再乘回原稀釋倍數而獲得濃度
(D)加入內標物可作為層析分析的定量方法。
55.105. 下列有關氣相層析的載體氣體的敘述,哪些正確
(A)載流氣體通常用高壓鋼瓶儲裝
(B)選用載流氣體與所使用12 的偵測器無關
(C)載流氣體必須具有化學惰性
(D)氮氣適合為氣相層析的載流氣體。
56.106. 原子發射光譜是利用譜線的波長及其強度進行定性何定量分析的,被激發原子發射的譜線可能出現的光區 是
(A)紫外光區
(B)可見光區
(C)紅外光區
(D)以上皆可。
57.107. 下列哪些離子源不適用於質譜法分析無機材料
(A)化學游離
(B)電子撞擊
(C)高頻火花
(D)電灑游離。
58.108. 下列有關極譜分析的操作,哪些正確
(A)通入氮氣
(B)攪拌
(C)恒溫操作
(D)加入表面活性劑。
59.109. 下列選項,哪些在雙波長分光光譜儀與單波長分光光譜儀中是相同的
(A)光源的種類
(B)檢測器的個數
(C)吸光 槽個數
(D)使用單色光器的個數。