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109年 - 109 專技高考_冶金工程技師：材料分析技術#93301

科目：技師◆材料分析技術 | 年份：109年 | 選擇題數：0 | 申論題數：9

試卷資訊

所屬科目：技師◆材料分析技術

選擇題 (0)

申論題 (9)

⑴試述拉伸試片為何要設定標距（gauge length）？其目的為何？
⑵以試片標距為依據，詳述如何設定拉伸變形的應變率（strain rate）？
二、試述掃描穿隧顯微鏡（scanning tunnel microscopy, STM）工作原理與主要應用，並說明為何可以不需要真空環境中操作？（10 分）
⑴不論是否為導體的試片，試述試片邊緣總是會有較強的訊號？
⑵既使是金屬試片，試述為何有時也會鍍導電層？
⑶承題(二)，試述此導電層為金（Au）或碳（C）？請說明原因。
四、試述聚焦離子束（focused ion beam, FIB）的成像與工作原理，並敘述 FIB 與掃描式電子顯微鏡（scanning electron microscopy, SEM）在功能與應用上的相似與差異性。（10 分）
(一)試述歐傑（Auger）電子的化學分析原理，並與 X 光的 EDS（energy dispersive spectroscopy）分析做比較。（10 分）
⑵進行歐傑（Auger）電子的化學定量分析時，試述為何要取用訊號的波 峰-波峰（peak-to-peak）強度，而非僅一個波峰（peak）？（10 分）