阿摩線上測驗 登入

112年 - 112 公務升官等考試_薦任_環境檢驗：儀器分析#117131

科目：儀器分析 | 年份：112年 | 選擇題數：0 | 申論題數：11

試卷資訊

所屬科目：儀器分析

選擇題 (0)

申論題 (11)

(一)對某一儀器分析方法，通常只在某一濃度範圍內，前述兩者才呈現線性關係，請問此一濃度範圍稱作什麼？又如何定義此一濃度範圍？（9 分）
(二)此一線性關係受到許多操作因子的影響，而其線性關係的斜率越高，在儀器分析上代表具有那一項較佳之分析效能，請說明之。 （6 分）
(三)前述線性關係的建立，通常使用已知分析物濃度的標準品為之；但如果待測樣品存在樣品基質（sample matrix）干擾時，分析結果將有所偏差，請說明利用內標準品（internal standard）來校正樣品基質干擾的方 法。（10 分）
(一)前述兩種儀器，誘導偶合電漿所扮演的角色為何？相較於火焰（flame） 原子放射光譜儀，誘導偶合電漿原子放射光譜儀具有較佳的偵測極限 （detection limit），請說明其原因。
(二)在定性分析中，鋁原子和鋅原子在此兩種儀器都會產生不同的分析訊號值而被檢測，請說明這兩種原子在此兩種儀器分析中，產生不同分析訊號值的原因。
(三)對同一原子的各種同位素，誘導偶合電漿原子質譜儀以及低解析核磁共振光譜儀等儀器，可將之視為不同的分析物（analyte）而對同位素分析具有選擇性（selectivity），請說明其原理。
(一)請說明相對於穿透式傅立葉轉換紅外線光譜法，ATR-FTIR 的配置如何提供表面分析的能力。
(二)取樣深度（sampling depth）為表面分析法的重要因子，ATR-FTIR 受到取樣深度的限制，無法對樣品的極表面（奈米等級）進行分析，但 X- 光光電子能譜儀（X-ray photoelectron spectroscopy）可以進行奈米等級的表面分析，請說明此一儀器如何達到奈米等級的表面分析。
(三)硫酸銅的銅元素和氯化亞銅的銅元素，在 XPS 分析中具有不同的電子束縛能，原因為何？
(一)如何選擇進行分析的波長及其原因？（8 分）
(二)以乙醛為例，其在庚烷以及乙醇（不同溶劑）中的紫外光-可見光吸收光譜有相當大的差異，請說明其原因。（7 分）