26. 使用χ射線粉末繞射法來測定粉末晶格間的距離。使用 Cu 之 Ka 射線(波長為 0.154nm)，假設一級繞射時，入射角為 14.72°(相當於 sinθ為0.254)，求晶格距離 d 約為
(A)0.2nm
(B)0.3nm
(C)0.4nm
(D)0.5nm 。

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