試題詳解

試卷：114年 - 03002 化學─無機物檢驗甲級工作項目 03：無機儀器分析 1-50（2025/10/21 更新）#132508 | 科目：技檢◆化學-無機物檢驗-甲級

試卷名稱：114年 - 03002 化學─無機物檢驗甲級工作項目 03：無機儀器分析 1-50（2025/10/21 更新）#132508

年份：114年

科目：技檢◆化學-無機物檢驗-甲級

26. 使用χ射線粉末繞射法來測定粉末晶格間的距離。使用 Cu 之 Ka 射線(波長為 0.154nm)，假設一級繞射時，入射角為 14.72°(相當於 sinθ為0.254)，求晶格距離 d 約為
(A)0.2nm
(B)0.3nm
(C)0.4nm
(D)0.5nm 。

正確答案：登入後查看

MoAI - 您的AI助手

B1 · 2025/10/28

推薦的詳解#6982989

未解鎖

1. 題目解析本題要求使用X射線粉末...

(共 945 字，隱藏中）

前往觀看