醫學物理學與輻射安全題庫下載題庫

l  對於光子輻射強度的指數衰減公式I＝I ₀．e^-μx，其僅用於窄射束的良幾何(good geometry)測量之理想條件，對於寬射束壞幾何(bad geometry)測量的實際條件不同，所以必須考慮增建因數(buildup factor)B(μx)，實際的輻射強度衰減公式為：I＝B(μx)I ₀ e^-μx。

   其中增建因數B(μx)≧1，μx為鬆弛長度(relaxation length)的數目。

l  在計算輻射防護屏蔽時，因為實際上均為壞幾何的條件下，散射光子對測得輻射強度I的貢獻度必須考慮進去，所以光子輻射強度比在好幾何條件下測得的為大，其增大的值即由增建因數B來表示，對於各種的防護屏蔽材料、厚度、光子能量與射源輻射強度的測量幾何條件，增建音數可由實際測量或蒙地卡羅屏蔽計算求得。

l  在窄射束、測量條件為好幾何的條件下，光子射束的輻射強度減少到原來的e^-1時的屏蔽厚度稱為鬆弛長度。一個鬆弛長度在數值上的意義為等於μ^－１，即為平均自由行程。

l  增建因數B(μx)與屏蔽厚度的關係為B(μx)值會隨鬆弛長度的數目變化。

[出處：輻射安全 3-8 P.53]

[出處：放射物理 5.04  P.139]