(A)算數平均粒徑→過篩法
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顯微鏡法:直接觀察外型特徵→投影粒徑
1.運用光學顯微鏡分析粒子特性,一般適用於 1 μm 以上之粒子。2.檢測之下限值取決於顯微鏡之解像力,而檢測之上限則因大粒子之粒徑不好測定,故較不明確。3.常用之粒徑測量定義如下菲爾特直徑—粒子任意放置,與目視刻線垂直且切過粒子邊界之兩條平行線間之距離。馬丁直徑—粒子任意放置,可將粒子平分為二之直線,與粒子邊界交接之點之距離即為馬丁直徑長度(即將投影面積平分為二之水平直線長度)。等投影面積直徑—與投影面積相等之圓之直徑。
36顯微鏡觀察測得的粒徑稱為: (A)算數平均粒徑(B)容積表面平均粒徑(C..-阿摩線上測驗