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112年 - 國軍退輔會職訓入學_大數據分析及系統設計班入學測試參考試題:Part II 程式設計概論#116064
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試題詳解
試卷:
112年 - 國軍退輔會職訓入學_大數據分析及系統設計班入學測試參考試題:Part II 程式設計概論#116064 |
科目:
數據分析
試卷資訊
試卷名稱:
112年 - 國軍退輔會職訓入學_大數據分析及系統設計班入學測試參考試題:Part II 程式設計概論#116064
年份:
112年
科目:
數據分析
43. 由上而下整合測試(Top-Down Integration Testing)的最大缺點為何?
(A) 需要有虛擬副程式,造成一些測試上的困難
(B) 無法進行模組測試
(C) 驅動程式設計困難
(D) 要到最後一個模組整合進來,才可看到軟體的完整功能。
正確答案:
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詳解 (共 1 筆)
MoAI - 您的AI助手
B1 · 2025/11/08
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