試題詳解

8 射擊殘跡的顆粒分析一般是以電子顯微鏡來分析射擊殘跡之顆粒形狀與大小，並以 X 射線能譜來分析其中金屬的成分，依此作為研判的依據。請問下列不明顆粒經分析之結果：（①成分②形狀③直徑大小），何者最可判定為射擊殘跡？
(A)①Sb，Ba②橢圓形狀顆粒群集在一起③5 μm
(B)①Cu，Fe②圓球狀顆粒③60 μm
(C)①Si，Zn②橢圓形狀顆粒③105 μm
(D)①Ni，S，Ca②橢圓狀顆粒相附著③40 μm