一、我們了解優選方向（preferred orientation）或織構（texture）在材料是一個相當普遍 之現象。例如，沉積於矽基板上之多晶薄膜常包含具有特定晶向之柱狀晶。請問 如何利用 X 光繞射方法去探討材料織構組織？（10 分）是否 θ − 及低掠角 （glancing angle）兩種 X 光繞射方法都可以被採用來做此分析？（10 分）