申論題 - 阿摩線上測驗

申論題資訊

試卷：101年 - 101 專技高考_冶金工程技師：材料分析技術#26385
科目：技師◆材料分析技術
年份：101年
排序：0

申論題內容

一、我們了解優選方向（preferred orientation）或織構（texture）在材料是一個相當普遍之現象。例如，沉積於矽基板上之多晶薄膜常包含具有特定晶向之柱狀晶。請問如何利用 X 光繞射方法去探討材料織構組織？（10 分）是否 θ − 及低掠角（glancing angle）兩種 X 光繞射方法都可以被採用來做此分析？（10 分）