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研究所、轉學考(插大)◆測量學
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109年 - 109 國立臺北大學_碩士班一般入學考試試題_不動產與城鄉環境學系:測量#147798
科目:
研究所、轉學考(插大)◆測量學 |
年份:
109年 |
選擇題數:
0 |
申論題數:
5
試卷資訊
所屬科目:
研究所、轉學考(插大)◆測量學
選擇題 (0)
申論題 (5)
一、請說明下列內容:
1. 在測量的溯形規劃中,常會評估「可靠度」指標,請分別說明「內、外可靠度」的內容以及目的。(15分)
2. 在逐差水準測量中,請由測量程序的規劃(或安排),敘述如何獲得較佳的觀測成果。(10分)
二、以電子測距儀(規格為 $a^{mm} + b \cdot ppm$)分別採兩種方式量測一段距離 $S$,其中第一種方式為將 $S$ 等分成 $n$ 段,逐一量測各小段距離 $\ell_i$ 後,最後將各小段加總;第二種方式為直接量測 $S$ 的總距離 $L_i$,重覆量 $n$ 次後取平均。其函數式分別如下,請以誤差傳播的概念分析何種測距方式較佳?(20 分)
第一種方式:$S = \ell_1 + \ell_2 + \dots + \ell_n$,逐一量測各小段 $\ell_i$ 後,最後將 $n$ 個小段加總。
第二種方式:$S = (L_1 + L_2 + \dots + L_n)/n$,每次量測全距 $L_i$,重覆量 $n$ 次之後取平均。
三、請比較衛星定位測量中的「電碼定位」與「相位定位」的原理與內容。(15分)
四、在「地籍圓重測」作業中,請分別敘述「地籍調查」與「協助指界」的內容、程序以及作業依據等。(20分)
五、已知兩圈根點A、B如圖所示,並於A點以光線法(或稱輻射線法)施測界址點P,觀測記錄以及A、B座標如表所列,試求P點座標 \((X_{\mathrm{P}},Y_{\mathrm{P}})\) (20分)
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