106年 - 106 高等考試_三級_測量製圖：航空測量學與遙感探測#63050

科目：航空測量學與遙感探測 | 年份：106年 | 選擇題數：0 | 申論題數：4

試卷資訊

所屬科目：航空測量學與遙感探測

選擇題 (0)

申論題 (4)

一、試說明 K-means 群集分析技術應用於多光譜影像非監督式分類之步驟，並概述一般採用之二種分類法則。（25 分）

二、空載光達（Airborne LiDAR）常應用於產製地表點雲（Point cloud）資料，試繪簡圖說明其系統組成、必備元件及功能、單點觀測資料與計算其三維座標之公式。（25 分）

三、試說明航空影像應用光束法區域平差（Bundle Block Adjustment）之目的、求解之未知數、採用之條件及其線性化方程式。（25 分）

四、試說明航空影像用來製圖時，影像地面涵蓋（Ground coverage）需有重疊之目的，並繪簡圖說明前後重疊（Endlap 或 Forward overlap）、左右重疊（Side lap 或 Side overlap）及其與有效模型（Neat model）之關係。（25 分）