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技檢◆化學-無機物檢驗-甲級
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114年 - 03002 化學─無機物檢驗 甲級 工作項目 02:無機微量分析 101-150(2025/10/21 更新)#132506
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試題詳解
試卷:
114年 - 03002 化學─無機物檢驗 甲級 工作項目 02:無機微量分析 101-150(2025/10/21 更新)#132506 |
科目:
技檢◆化學-無機物檢驗-甲級
試卷資訊
試卷名稱:
114年 - 03002 化學─無機物檢驗 甲級 工作項目 02:無機微量分析 101-150(2025/10/21 更新)#132506
年份:
114年
科目:
技檢◆化學-無機物檢驗-甲級
複選題
131. 下列有關感應耦合電漿質譜儀的敘述,哪些正確?
(A)常用於檢測超微量元素
(B)定量濃度低至 ppt 甚至 sub-ppt 等級之元素
(C)背景當量濃度(BEC)是一種可評估 ICP-MS 系統效能的指標
(D)背景雜訊不會影響到偵測極限 。
正確答案:
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詳解 (共 1 筆)
MoAI - 您的AI助手
B1 · 2025/10/28
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