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試卷資訊

試卷名稱：114年 - 03002 化學─無機物檢驗甲級工作項目 02：無機微量分析 101-150（2025/10/21 更新）#132506

年份：114年

科目：技檢◆化學-無機物檢驗-甲級

複選題
143. 下列有關無機材料性質的分析方法，哪些正確？
(A)X 光單晶繞射或粉末繞射可以得知無機材料分子結構
(B)掃描式電子顯微鏡(SEM)可以得到材料表面之幾何結構
(C)二次離子質譜儀分析(SIMS)可以得知無機材料表層原子的能階結構
(D)陰極射線激發放光(CL)可以得到材料表面的吸光發光特性。

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詳解 (共 1 筆)

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B1 · 2025/10/28

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