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技檢◆化學-無機物檢驗-甲級
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114年 - 03002 化學─無機物檢驗 甲級 工作項目 03:無機儀器分析 151-219(2025/10/21 更新)#132511
> 試題詳解
204. 下列有關螢光光譜分析的敘述,哪些正確?
(A)一般可測至 10
-7
~10
-8
M的濃度
(B)激發光較放射光之波長還短
(C)發射光與偵測器呈直角
(D)是測定激態電子返回基態所發散出的熱 。
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B1 · 2025/10/28
#6982703
題目解析 螢光光譜分析是一種利用物質在...
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205. 下列有關極譜儀法的敘述,哪些正確? (A)半波電位能用來測定溶液濃度(B)極譜波的半波電位能用來進行定性分析 (C)殘餘電流能用來進行定性分析 (D)擴散電流能用來測定溶液之濃度 。
#3642051
206. 以 AAS 火焰法分析金屬,若溶液中含高濃度 NaCl 時,會形成下列哪些干擾? (A)化學性干擾 (B)離子化干擾 (C)霧化效率改變 (D)散射 。
#3642052
207. 下列有關極譜儀分析半波電位的敘述,哪些錯誤? (A)可用於定量 (B)可鑑定化合物 (C)不受溶液組成影響 (D)受 pH 影響 。
#3642053
208. 下列哪些能用來校正原子吸收光譜法中的背景干擾? (A)連續光源校正法(B)Zeeman 效應法 (C)標準添加法 (D)Smith-Hieftje 校正法 。
#3642054
209. 下列哪些分析方法屬於光譜法? (A)化學發光法 (B)核磁共振法 (C)X 射線繞射法 (D)折射法 。
#3642055
210. 以 AAS 火焰法分析金屬時,下列哪些方法無法去除離子化干擾? (A)採用背景校正 (B)溶劑萃取 (C)採用較低溫之火焰 (D)添加更易離子化之元素 。
#3642056
211. 下列有關極譜儀中的滴汞電極與飽和甘汞電極之敘述,哪些錯誤? (A)兩個電極都是極化電極 (B)滴汞電極是參考電極 (C)飽和甘汞電極是參考電極 (D)飽和甘汞電極是去極化電極,滴汞電極是極化電極 。
#3642057
212. 下列有關原子發射光譜分析法的敘述,哪些正確? (A)適用於微量元素分析 (B)可測定非金屬元素 (C)選擇性好,干擾少 (D)可測定元素價態 。
#3642058
213. 兩金屬電極分別浸於各自金屬鹽之水溶液,以鹽橋構成電池。下列有關此電池電極表面化學反應的敘述中,哪些正確? (A)陰極是金屬電極時,其表面溶解,電極重量減輕 (B)電極表面發生的反應屬氧化還原反應 (C)陰極發生氧化反應,電極表面會出現還原性電解質 (D)陽極與陰極以電線連接,電子經電線由陽極移到陰極 。
#3642059
214. 下列哪些類型的離子源可以使用在"飛行時間質譜儀"? (A)MALDI (B)場脫附 (C)電灑游離源(ESI) (D)快速原子撞擊與液體二次電離(LSI) 。
#3642060
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