試題詳解

試卷：96年 - 96財團法人中華民國非破壞檢測協會第二次非破壞檢測人員資格考試_初級_普通科 :渦電流檢測#107949 | 科目：台灣非破壞檢測學會◆初級◆普通科

試卷名稱：96年 - 96財團法人中華民國非破壞檢測協會第二次非破壞檢測人員資格考試_初級_普通科 :渦電流檢測#107949

年份：96年

科目：台灣非破壞檢測學會◆初級◆普通科

複選題
38.關於表面與內繞探頭之敘述，下列何者為真？
(A)表面探頭可檢出一般之腐蝕缺陷
(B)內繞探頭可檢出圈向之缺陷
(C)內繞探頭無法檢出腐蝕缺陷
(D)以上皆對

正確答案：登入後查看