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試卷資訊

試卷名稱：114年 - 03002 化學─無機物檢驗甲級工作項目 02：無機微量分析 101-150（2025/10/21 更新）#132506

年份：114年

科目：技檢◆化學-無機物檢驗-甲級

104. 下列有關電子顯微鏡像能的像差種類的敘述，何者正確？
(A)提高電子束波長或提高透鏡品質(半張角)可降低繞射像差
(B)降低電子束直徑或提高電子束半張角可降低球面像差
(C)因透鏡磁場分佈均勻所致，可利用像差調節器修正散光像差
(D)因高壓系統或透鏡電流不穩定，降低加速電壓並使用場發射電子槍，可降低波長散佈像差。

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詳解 (共 1 筆)

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B1 · 2025/10/28

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