11. 某工廠生產的晶片不良率為1%，若隨機抽取200個晶片進行檢測，則恰好有2個瑕疵品之機率最接近下列何者？ (A) 27.07% (B) 32.21% (C) 35.61% (D) 40.50%

19. 假設 \( X_1, ..., X_n \) 為來自於母體平均數為 \( \mu \)，母體變異數為 \( \sigma^2 \) 的一組隨機樣本，下列敘述何者有誤？ (A) \( \bar{X} = (\sum_{i=1}^{n} X_i)/n \) 是 \( \mu \) 的不偏估計量 (B) \( S^2 = \sum_{i=1}^{n} (X_i - \bar{X})^2 / (n - 1) \) 是 \( \sigma^2 \) 的不偏估計量 (C) \( \bar{X} = (\sum_{i=1}^{n} X_i)/n \) 是 \( \mu \) 的一致估計量 (D) \( S = \sqrt{S^2} \) 是 \( \sigma \) 的不偏估計量