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(A)相位差顯微鏡：相襯顯微技術是一種光學顯微技術，光線在穿過透明的樣品時會產生微小的相位差，而這個相位差可以被轉換為圖象中的幅度或對比度的變化，這樣就可以利用相位差來成像。

(B)解剖顯微鏡（Dissecting microscope），觀察時樣品可以呈現立體的樣貌。利用透鏡放大物像送到眼睛或成像儀器，解析度大約為一微米，可以看到細胞大小的物品。解剖顯微鏡常常用在一些固體樣本的表面觀察，或是解剖、鐘錶製作和小電路板檢查等工作上。

光學顯微鏡能看見物體界線

(C)掃描電子顯微鏡（Scanning Electron Microscope，縮寫為SEM），是一種電子顯微鏡，其通過用聚焦電子束掃描樣品的表面來產生樣品表面的圖像。掃描電子顯微鏡可以實現解析度優於1奈米...

(A)相位差顯微鏡：相襯顯微技術是一種光學顯微技術，光線在穿過透明的樣品時會產生微小的相位差，而這個相位差可以被轉換為圖象中的幅度或對比度的變化，這樣就可以利用相位差來成像。

(B)解剖顯微鏡（Dissecting microscope），觀察時樣品可以呈現立體的樣貌。利用透鏡放大物像送到眼睛或成像儀器，解析度大約為一微米，可以看到細胞大小的物品。解剖顯微鏡常常用在一些固體樣本的表面觀察，或是解剖、鐘錶製作和小電路板檢查等工作上。

光學顯微鏡能看見物體界線

(C)掃描電子顯微鏡（Scanning Electron Microscope，縮寫為SEM），是一種電子顯微鏡，其通過用聚焦電子束掃描樣品的表面來產生樣品表面的圖像。掃描電子顯微鏡可以實現解析度優於1奈米。樣品可以在高真空，低真空，濕條件（用環境掃描電子顯微鏡）以及寬範圍的低溫或高溫下觀察到。但由於電子束只能穿透樣品表面很淺的一層（參見作用體積），所以只能用於表面分析。

(D)穿透式電子顯微鏡（英語：Transmission electron microscope，縮寫：TEM、CTEM），簡稱透射電鏡，是把經加速和聚集的電子束投射到非常薄的樣品上形成明暗不同的影像。透射電子顯微鏡的解析度比光學顯微鏡高的很多，放大倍數為幾萬～百萬倍。

資料來源：維基百科