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試題詳解

試卷:112年 - 112 初級智慧生產工程師能力鑑定試題:智慧製造生產線管理基礎#114720 | 科目: iPAS◆智慧製造生產線管理基礎◆初級

試卷資訊

試卷名稱:112年 - 112 初級智慧生產工程師能力鑑定試題:智慧製造生產線管理基礎#114720

年份:112年

科目: iPAS◆智慧製造生產線管理基礎◆初級

14.巨量資料探勘提供了企業或學術界前所未有的機會。在資料探勘中,下列何者 是我們在學習資料探勘(Data Mining)的過程當中最常聽見,也是這門學科一開始接 觸到的概念?
(A)從資料中聆聽知識(Listening To Knowledge, LTK);
(B)從資料中發掘知識 (Knowledge Discovery from Data, KDD);
(C)從資料中解決問題(Solve Problem from Data, SPD);
(D)從資料使用中產生智慧(Intelligent from Using Data, IUD)
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