16. 掃描電子顯微/X-射線能譜分析法(SEM /EDX)於射擊殘跡鑑識之應用，何者不適合？
(A)分析所含之鉛、銻、鋇等元素
(B)量測球形射擊殘跡顆粒之直徑
(C)硝化甘油和二硝基甲苯等成分之分析
(D)觀察射擊殘跡其顆粒之型態特徵

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統計： A(5), B(20), C(156), D(11), E(0) #1119877

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#2870032
由於微粒分析是針對其大小、形態、元素等條...
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