試題詳解

試卷：108年 - 物聯網基礎架構概論151-200#80142 | 科目：物聯網基礎架構概論

試卷資訊

試卷名稱：108年 - 物聯網基礎架構概論151-200#80142

年份：108年

科目：物聯網基礎架構概論

176. 輻射傷害是由下列何種輻射所造成的？
(A) 游離輻射
(B) 有熱效應的非游離輻射
(C) 無熱效應的非游離輻射
(D) 熱電能輻射

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