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技檢◆化學-無機物檢驗-甲級
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114年 - 03002 化學─無機物檢驗 甲級 工作項目 02:無機微量分析 1-50(2025/10/21 更新)#132504
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試題詳解
試卷:
114年 - 03002 化學─無機物檢驗 甲級 工作項目 02:無機微量分析 1-50(2025/10/21 更新)#132504 |
科目:
技檢◆化學-無機物檢驗-甲級
試卷資訊
試卷名稱:
114年 - 03002 化學─無機物檢驗 甲級 工作項目 02:無機微量分析 1-50(2025/10/21 更新)#132504
年份:
114年
科目:
技檢◆化學-無機物檢驗-甲級
22. 下列何者為 X-射線繞射儀中最普遍使用的偵測器?
(A)閃爍計數器
(B)游離腔室
(C)比例計數器
(D)蓋革管 。
正確答案:
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詳解 (共 1 筆)
MoAI - 您的AI助手
B1 · 2025/10/29
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