33 在材料分析中，利用 X 光繞射法（X-ray diffraction, XRD），一般是分析什麼？
(A)結晶構造
(B)化學成份
(C)表面缺陷
(D)電子能階

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統計： A(269), B(11), C(36), D(36), E(0) #1167644