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試題詳解

試卷:113年 - 113-2 初級無形資產評價管理師能力鑑定試題:智慧財產概論及評價職業道德#124030 | 科目:iPAS◆智慧財產概論及評價職業道德◆初級

試卷資訊

試卷名稱:113年 - 113-2 初級無形資產評價管理師能力鑑定試題:智慧財產概論及評價職業道德#124030

年份:113年

科目:iPAS◆智慧財產概論及評價職業道德◆初級

35.發明專利申請後,任何人如欲知道該發明是否符合專利要件,必須提出實體審查申請,下列關於實體審查之敘述,何者正確?
(A)實體審查於申請後 3 年內申請,申請人不得於申請時一併申請實體審查;
(B)獨立項和附屬項均為決定是否符合專利要件的基本單位,因此,申請實體審查時均列入計費基礎;
(C)自申請日起 3 年內,未申請實體審查者,依專利法規定,申請案視為撤回;
(D)第三人申請實體審查時,通知進行實體審查的公文正本通知應給專利申請人

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1. 題目解析 本題是關於發明專利的實體...
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