36. 使用偵檢器測量 X 光機的半值層，偵檢器需至少離開其他物質 50 cm 以上，其目的何 在？
(A)減少主射束到達偵檢器的強度
(B)減少主射束中低能光子到達偵檢器的強度
(C)較容易對正主射束
(D)避免散射光子影響測量準確性

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統計： A(6), B(22), C(4), D(103), E(0) #926231

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私人筆記#6890646
未解鎖
解釋： 在測量 X 光機的半值層（Ha...
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