44. 下列何種檢驗法可用於待測物件內部缺陷之檢驗？
(A)螢光檢驗法
(B)超音波檢驗法
(C)磁粉探傷檢驗法
(D)渦電流 檢驗法

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統計： A(8), B(167), C(16), D(4), E(0) #2890421