44. 下列哪種偵檢器必須考量淬息作用產生的影響？
(A)游離腔
(B)閃爍計數器
(C)半導體偵檢器
(D)蓋革計數器

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統計： A(6), B(25), C(17), D(231), E(0) #1988121