5. 如果屏蔽相當厚，有些光子在屏蔽體中經過兩次或更多次的散射後被偵檢器測得，則此時由衰減公式 I = I0e−µχ所得的 I，與實際上所測得的IX，其大小關係為
(A) IX＞I
(B) IX ≧ I
(C) I＞IX
(D) I ≧ IX

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