65. 結構上，下列何種量具較容易產生亞培(Abbe)測量誤差
(A)外徑分厘卡
(B)卡式內徑分厘卡
(C)直桿式內徑分厘卡
(D)深度分厘卡。 3

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統計： A(0), B(5), C(0), D(1), E(0) #1169675