掃描式電子顯微鏡/X-射線能譜法SEM/EDS原理:利用聚焦後的電子束轟擊故定範圍的樣品表面,始掃描區域的各種電子、特性X射線、可見光等各種量子發射。
用途:可偵測物證的個特性資料,常用於跡證觀察級元素分析。
7 掃描式電子顯微鏡/X-射線能譜法(SEM/EDX)是應用在下列那一種鑑定? ..-阿摩線上測驗