試題詳解

試卷：115年 - 22400 化學性因子作業環境監測乙級工作項目 04：樣本分析概要 1-50（2026/01/14 更新）#136896 | 科目：技檢◆化學性因子作業環境監測-乙級

試卷名稱：115年 - 22400 化學性因子作業環境監測乙級工作項目 04：樣本分析概要 1-50（2026/01/14 更新）#136896

年份：115年

科目：技檢◆化學性因子作業環境監測-乙級

8. Ｘ-光繞射光譜主要係由於下列何種作用所造成？
(A)原子繞質量中心轉動
(B)原子間振動
(C)分子外層電子之遷移(transition)
(D)原子內層電子之遷移(transition) 。

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