9 有關證物之組成及其分析的概念,下列敘述何者正確?
(A)掃描電子顯微/X-射線能譜分析法(SEM/EDS)可同時進行射擊殘跡的元素分析及其顆粒之型態特徵觀 察
(B) X射線螢光光譜分析法主要是應用於有機與無機證物的鑑定,並不適用於證物之元素分析
(C)不同來源的物證,無法單憑其主要组成元素之種類與含量的差異而區別其來源,必須有進一步的定量 分析
(D) —般而言,證物的組成物質以無機化合物居多

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統計: A(565), B(13), C(125), D(18), E(0) #655521

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(B)X射線螢光光譜分析,廣泛運用元素分...
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X射線螢光光譜分析可用於無機元素分析。

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