阿摩線上測驗
登入
首頁
>
攝影測量與遙感探測
>
102年 - 102 高等考試_二級_測量製圖:攝影測量與遙感探測#44472
> 申論題
申論題
試卷:102年 - 102 高等考試_二級_測量製圖:攝影測量與遙感探測#44472
科目:攝影測量與遙感探測
年份:102年
排序:0
申論題資訊
試卷:
102年 - 102 高等考試_二級_測量製圖:攝影測量與遙感探測#44472
科目:
攝影測量與遙感探測
年份:
102年
排序:
0
申論題內容
五、比較離散回訊光達(Discrete Return Lidar)與全波形光達(Full Waveform Lidar)兩 類空載光達之資料特性與應用。(20 分)