阿摩線上測驗
登入
首頁
>
測量學(概要、大意)
>
101年 - 101 地方政府特種考試_三等_測量製圖:測量學#31521
> 申論題
申論題
試卷:101年 - 101 地方政府特種考試_三等_測量製圖:測量學#31521
科目:測量學(概要、大意)
年份:101年
排序:0
申論題資訊
試卷:
101年 - 101 地方政府特種考試_三等_測量製圖:測量學#31521
科目:
測量學(概要、大意)
年份:
101年
排序:
0
申論題內容
四、在不同測站,利用地面雷射掃瞄儀(Terrestrial Laser Scanner),掃瞄相同地物,敘 述結合其所得點雲資料之原理,並說明必須具備的條件。(20 分)