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航空測量學與遙感探測
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112年 - 112 公務升官等考試_薦任_測量製圖:航空測量與遙感測量學#117147
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申論題
試卷:112年 - 112 公務升官等考試_薦任_測量製圖:航空測量與遙感測量學#117147
科目:航空測量學與遙感探測
年份:112年
排序:0
申論題資訊
試卷:
112年 - 112 公務升官等考試_薦任_測量製圖:航空測量與遙感測量學#117147
科目:
航空測量學與遙感探測
年份:
112年
排序:
0
申論題內容
四、成像雷達系統(imaging radar systems)總是朝向雷達天線載具(例如: 衛星或飛機)的飛行方向之側邊(左或右側邊)來發射雷達波和接收雷達回波,故稱為「側視成像雷達(side looking imaging radar)系統」 。請說明成像雷達系統採取側視取像之原因。(25 分)