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平面測量學(包括地籍測量)
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95年 - 95 專技高考_測量技師：平面測量學#49538
> 申論題
題組內容
四、如下圖，已知 A 點高程 H
A
=40.000 m，B 點高程 H
B
=50.000 m，經直接水準測量得 觀測數據如下表：
⑷ H
C
及 H
D
之中誤差。（5 分）
相關申論題
五、設點 A 為已知點位，其 TWD97 投影坐標為（NA, EA, HA），現若以 GPS 相對定位方 式觀測計算得點 A 至點 B（距離在 10 公里內）之三維坐標差（∆X, ∆Y 及 ∆Z），此 坐標差乃定義於 WGS84 地心坐標系，請問應如何求得此兩點之水平距離及高程差 ？請說明解算方式即可，不需列計算式，若所舉的解算方式是近似算法，請說明所 忽略的項目為何。（15 分）
#174370
⑴若目前製程呈現管制下（in control）狀態，利用上述資料來設定 p 管制圖的 3 - σ 管制界限。（10 分）
#174371
⑵假設不良率的目標值是 p0 = 0.01，目前的製程不良率是否高於目標值？請進行統 計檢定。使用型一誤差機率α =0.05。（10 分）
#174372
⑶若問題⑵的檢定結果為目前製程不良率高於目標值，此檢驗結果與製程呈現管制 下的現象不符，請說明原因。（5 分）
#174373
⑴估計產品的不良率（fraction nonconforming）。（5 分）
#174374
⑵如果一罐飲料成品的容量落在規格界限內，可產生利潤 10 元。若容量落在規格 界限外，則會造成虧損 20 元，請計算一罐飲料的期望利潤。（10 分）
#174375
⑶估計製程能力指標 C p 及 C pk 。（10 分）
#174376
⑴請計算批量的允收機率。（5 分）
#174378
⑵計算平均不良率，即平均出貨品質水準（average outgoing quality level）。（5 分）
#174379
⑶計算平均總檢驗件數（average total inspection）。（5 分）
#174380
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