最新資料

作物學

技檢◆門窗木工-甲級

作物生理學

115年 - 115 普通考試_勞工行政：勞資關係概要#142144(4題)

115年 - 115 普通考試_勞工行政：勞工行政與勞工立法概要#142143(4題)

115年 - 115 普通考試_教育行政：教育概要#142142(4題)

115年 - 115 普通考試_觀光行政：旅運經營學概要#142141(8題)

115年 - 115 普通考試_教育行政：教育行政學概要#142140(4題)

115年 - 115 普通考試_養殖技術：養殖生態與管理概要（包括養殖工程）#142139(4題)

115年 - 115 普通考試_檔案管理：檔案管理學概要#142138(4題)

115年 - 115 普通考試_新聞（選試英文）、新聞（選試日文）：國際現勢概要#142137(4題)

115年 - 115 普通考試_新聞（選試英文）、新聞（選試日文）：新聞學概要#142136(4題)

115年 - 115 普通考試_圖書資訊管理：技術服務概要#142135(4題)

7. Which of the following trans complexes would you expect to react most rapidly with CO? (3%)(A) Cr(CO)4(PPh3)2 (B) Cr(CO)4(PPh3)(PBu3) (Bu = n-butyl)(C) Cr(CO)4(PPh3)[P(OMe)3] (D) Cr(CO)4(PPh3)[P(OPh)3

6. Which of the following complexes have18-electron valence configurations? (3%)(A) Ir(CO)Cl(PPh3)2 (B) RhCl(PPh3)3 (C) [Ni(CN)4]2- (D) [V(CO)7]+

5. What is the ground term for the configuration of d8 (Oh symmetry) (3%)(A) 3F4 (B) 5D0 (C) 2T2g (D)2Eg

5. Find the solution of the following equation: (20%)Uxy+2Ux=X , satisfying contion U(0,y)=0, Ux(x,0)=X2

(b) (10%)

(a) (10%)

國三下英文課程(九年級)

講師：台中大雅家教-睿智數學及英文家教，王瑞志老師

簡介：提供國三下英文單字口訣記憶課程，諧音記憶法，老師嚴選測驗題，透過遊戲+影音+講義+測驗，多環相扣的方式...

國中英語基礎文法(上)

講師：Brenda

簡介：結合國中會考基測常考單字及文法題庫，共18單元以循序漸進方式安排解題與老師解說，幫助同學理解每一單元的...

高一上英文課程(十年級)

講師：台中大雅家教-睿智數學及英文家教，王瑞志老師

簡介：老師嚴選高中英文課程單字，遊戲+講義+影音+測驗......等，多效合一。

激勵理論

課程：陳真-行政學大意(概要)
章節：Ch3.方案管理(行政運作)

溝通

課程：陳真-行政學大意(概要)
章節：Ch3.方案管理(行政運作)

Hersey

課程：陳真-行政學大意(概要)
章節：Ch3.方案管理(行政運作)

45.(甲)金風送爽(乙)火傘高張(丙)楊柳東風(丁)朔風襲人上列描述的季節，依照「春夏秋冬」的順序應該是：(A)丙乙甲丁(B)丁丙甲乙(C)甲丁丙乙(D)乙甲丁丙。

15. To tell the truth ________right. (A) were (B) done (C) is (D) are

16. The red car is ________, not yours. (A) bright (B) old (C) big (D) mine

17. John looks taller________ Peter. (A) than (B) under (C) off (D) between

複選題30.有關汽車在高速公路行駛途中，因機件故障或其他緊急情況無法繼續行駛時，下列哪些駕駛操 作正確？ (A)應滑離車道，在外側車道上停車待援 (B)滑離車道時，應先顯示方向燈逐漸減速 (C)待援期間應顯示危險警告燈 (D)滑離車道後待援期間，除顯示危險警告燈外，應在故障車輛後方 50 公尺至 100 公尺處設置 車輛故障標誌警示 (E)無法滑離車道時，除顯示危險警告燈外，應在故障車輛後方 50 公尺至 100 公尺處設置車輛 故障標誌，同時應即通知該管公路管理機關或警察機關協助處理

(五)續題(四)，品管團隊關心曝光機的連續穩定運作能力。令隨機變數 R 為 該曝光機檢測「直到第一次發生微粒缺陷(出錯) 」為止，所累積的總 曝光晶圓次數(含出錯的那一次) 。求該曝光機在連續穩定運作了 100 次任務而未出錯的條件下，在接下來的 1 次任務內(即第 101 次)也 不會出錯的條件機率 P[ R > 101| R > 100] 。