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(合併到高普考/34等)
(原關務國文,合併到高普考3/4等國文)
軍人&預官◆英文
最新試卷
115年 - 115 司法特種考試_三等_家事調查官、心理測驗員:心理學#143330(4題)
115年 - 115 司法特種考試_三等_觀護人(選試少年事件處理法):少年事件處理法(包括少年法院與相關機關處理少年事件聯繫辦法)#143329(4題)
115年 - 115 司法特種考試_三等_司法事務官法律事務組、司法事務官財經事務組、司法事務官營繕工程事務組:強制執行法與非訟事件法#143328(8題)
115年 - 115 司法特種考試_三等_家事調查官:調查與訪談實務#143327(4題)
115年 - 115 司法特種考試_三等_司法事務官法律事務組:破產法與消費者債務清理條例#143326(8題)
115年 - 115 司法特種考試_三等_家事調查官:家事事件法#143325(7題)
115年 - 115 司法特種考試_三等_行政執行官:民事訴訟法#143324(3題)
115年 - 115 司法特種考試_三等_行政執行官:強制執行法與商事法(包括公司法、票據法、保險法)#143323(7題)
115年 - 115 司法特種考試_三等_家事調查官:家庭社會工作理論與實務(包括家庭暴力)#143322(4題)
115年 - 115 司法特種考試_三等_觀護人(選試社會工作概論)、觀護人(選試少年事件處理法)、家事調查官、心理測驗員、心理輔導員:諮商與輔導#143321(8題)
最新試題
7. Which of the following trans complexes would you expect to react most rapidly with CO? (3%)(A) Cr(CO)4(PPh3)2 (B) Cr(CO)4(PPh3)(PBu3) (Bu = n-butyl)(C) Cr(CO)4(PPh3)[P(OMe)3] (D) Cr(CO)4(PPh3)[P(OPh)3
6. Which of the following complexes have18-electron valence configurations? (3%)(A) Ir(CO)Cl(PPh3)2 (B) RhCl(PPh3)3 (C) [Ni(CN)4]2- (D) [V(CO)7]+
5. What is the ground term for the configuration of d8 (Oh symmetry) (3%)(A) 3F4 (B) 5D0 (C) 2T2g (D)2Eg
最新申論題
5. Find the solution of the following equation: (20%)Uxy+2Ux=X , satisfying contion U(0,y)=0, Ux(x,0)=X2
(b) (10%)
(a) (10%)
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會計學(含中級會計學)
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提供給對學習會計學有興趣的人士(沒有學過的也可以看,從頭教起!),不管是在學、升學(如:四技二專的入...
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根據108課綱十二年國民基本教育技術型高級中等學校電機與電子群課程綱要所摘要「程式設計實習」的學習重點...
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1.認識數量關係與規律 2.數列與級數 3.等差數列 4.等差級數 5.綜合應用
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自我導向的苦惱/憂傷:係指當我們感受到(亦即同理)他人的難過情緒時所引發的個人不舒服或憂傷感覺;被認...
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最新討論
15. To tell the truth ________right. (A) were (B) done (C) is (D) are
16. The red car is ________, not yours. (A) bright (B) old (C) big (D) mine
17. John looks taller________ Peter. (A) than (B) under (C) off (D) between
1. 已知甲乙兩農產品為替代品且產季相同,以下哪一種情形會使甲產品的市場交易價格下降? (A)甲產品供給增加 (B)消費者所得增加 (C)乙產品價格增加 (D)乙產品需求增加
複選題29.某直轄市交通警察大隊收受所轄直屬分隊送交之違反道路交通管理事件後,應做哪些處置? (A)移送違反道路交通管理事件,應設簿登記或輸入電腦資料檔案,以備查考 (B)應審查該事件填記內容是否符合規定、附件是否齊全 (C)發現不符規定或附件欠缺者,協調補正後再行移送處罰機關 (D)發現內容填記錯誤者,應即日通知被通知人更正 (E)發現內容填記錯誤者,距移送處罰機關之期限未達 3 日之情況急迫時,得經處罰機關核准 後逕為更正
(四)根據歷史數據顯示,該極紫外光曝光機在對每片晶圓進行曝光時,特 定關鍵區域「無微粒缺陷」 (即完全達標合格)的機率為 0.3,且每片 晶圓的檢測結果彼此相互獨立。若該區域出現微粒缺陷,則視為一次 「出錯或失敗」 。工程師為了進行設備耐受度測試,設定曝光機必須直 到累積發生第 2 次「無微粒缺陷」 (合格)時才停止測試。令隨機變數 W 表示在此期間該曝光機所累積的「出錯(失敗)次數」 。請寫出 W 的機率密度函數。