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101年 - 101 高等考試_三級_核子工程、輻射安全：輻射度量#39925

科目：輻射度量 | 年份：101年 | 選擇題數：0 | 申論題數：10

試卷資訊

所屬科目：輻射度量

選擇題 (0)

申論題 (10)

一、一部純鍺偵檢器經加高壓後，其耗乏區（depletion region）為 20 mm厚，目前用來 測量 0.1 MeV之加馬射線。假設 0.1 MeV加馬射線對鍺之光電效應質量衰減係數為 0.2 cm2/g，而鍺之密度為 5.323 g/cm3，請問本純鍺偵檢器之本質（intrinsic）偵檢效率 為何？假設純鍺偵檢器之窗口、電極以及無感層，吸收光子之機率為零；同時假設 耗乏區表面貼著射源無距離，而且康譜吞散射忽略不計。（15 分）
二、測量中子反應器之中子通率，我們利用金箔（重量為 5×10-6 g）中子活化分析方法，將 金箔置入爐心照射 10 min，冷卻 2.696 d以後，以純鍺偵檢器測量 0.4118 MeV之全 能峰 10 分鐘，扣除背景後得到 3,000,000 個計數。請問中子反應器之中子通率為何？ （197Au (n, γ) 198Au之反應截面為 98.5 barn；198Au半衰期為 2.696 d；198Au發射 0.4118 MeV其branch ratio=98.6%；Au密度為 19.3 g/cm3；自然豐度為 100% 197Au；已知純鍺 偵檢器於 0.4118 MeV之全能峰偵檢效率為 0.5%；Au之原子量為 197.0。）（15 分）
三、一個射源，經測量 1 h 得 810 計數。射源移除後，測量其背景計數 1 h 為 800 計數。 請問射源之強度及其誤差各為多少？單位請用 counts/h。目前量測共花了兩小時， 若欲將百分比誤差（精密度 precision 或 uncertainty）降低 10 倍，則共需要測量多 少小時？（假設測量背景所需之時間與測量試樣之時間相同）（15 分）
四、請簡述中子補償游離腔（Compensated ionization chamber）偵檢器之構造及基本操作 原理。（15 分）
五、一部蓋革偵檢器（end window type）用來量測一個 α 及 γ 之混合射源。請寫出一個 方案以估計 α 及 γ 分別占有多少？（15 分）
⑴ NIM modules
⑵ Bragg Curve
⑶ W-value
⑷楷方檢驗法（Chi-square test）
⑸無感時間（Dead time）