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102年 - 102年高等三級暨普通考高考三級_化學工程#29363

科目：儀器分析 | 年份：102年 | 選擇題數：0 | 申論題數：11

試卷資訊

所屬科目：儀器分析

選擇題 (0)

申論題 (11)

⑴所使用的光源為何？可提供之波長為何？（10 分）
⑵使用反射式光柵（grating）的目的為何？其工作原理為何？（10 分）
⑶偵測器有分為光電倍增管（photomultiplier tube, PMT）與二極體陣列（photodiode array, PDA），其工作原理有何不同？（10 分）
⑴該 XPS 電子之束縛能為多少 eV（四捨五入至小數第一位）？（10 分）
⑵若改以鋁（Al，Kα 0.83393 nm）為激發源，該 XPS 電子之動能為多少 eV（四捨五入至 小數第一位）？（8 分）
⑶何謂歐傑電子？如何分辨受激發電子為 XPS 電子或是歐傑電子？（7 分）
⑴C-18 管柱材料的組成為何？有何特性？（10 分）
⑵若某成分之滯留時間為 6.5 分鐘，吸收峰之峰底寬度為 0.3 分鐘，求理論板數（四 捨五入至整數）。（8 分）
⑶請預測可能之層析圖譜。（7 分）
⑴針對非揮發性樣品，請舉出兩種樣品離子化的方法，並說明其原理。（10 分）
⑵何謂飛行時間質譜技術？（10 分）