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試題詳解

試卷：114年 - 03002 化學─無機物檢驗 甲級 工作項目 03：無機儀器分析 151-219（2025/10/21 更新）#132511 | 科目：技檢◆化學-無機物檢驗-甲級

試卷資訊

試卷名稱：114年 - 03002 化學─無機物檢驗 甲級 工作項目 03：無機儀器分析 151-219（2025/10/21 更新）#132511

年份：114年

科目：技檢◆化學-無機物檢驗-甲級

複選題
163. 下列哪些方法可用來校正原子吸收光譜法中的背景干擾
(A)連續光源校正法
(B)Zeeman 效應法
(C)Smith- Hieftje 校正法
(D)加入內標物校正 。

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詳解 (共 1 筆)

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未解鎖
1. 題目解析 本題主要考查對於原子吸收...
(共 1020 字，隱藏中）
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