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技檢◆化學-無機物檢驗-甲級
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114年 - 03002 化學─無機物檢驗 甲級 工作項目 03:無機儀器分析 151-219(2025/10/21 更新)#132511
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試題詳解
試卷:
114年 - 03002 化學─無機物檢驗 甲級 工作項目 03:無機儀器分析 151-219(2025/10/21 更新)#132511 |
科目:
技檢◆化學-無機物檢驗-甲級
試卷資訊
試卷名稱:
114年 - 03002 化學─無機物檢驗 甲級 工作項目 03:無機儀器分析 151-219(2025/10/21 更新)#132511
年份:
114年
科目:
技檢◆化學-無機物檢驗-甲級
複選題
168. 下列哪些光譜方法適用於研究固體的表面組成
(A)AAS
(B)XRF
(C)NMR
(D)AES 。
正確答案:
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詳解 (共 1 筆)
MoAI - 您的AI助手
B1 · 2025/10/28
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未解鎖
題目解析 本題是複選題,詢問四種光譜方法...
(共 871 字,隱藏中)
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