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試題詳解

試卷:113年 - 113-3 全國技術士技能檢定學科_甲級:03001 化學─無機物檢驗#131203 | 科目:技檢◆化學-無機物檢驗-甲級

試卷資訊

試卷名稱:113年 - 113-3 全國技術士技能檢定學科_甲級:03001 化學─無機物檢驗#131203

年份:113年

科目:技檢◆化學-無機物檢驗-甲級

複選題

75. 下列哪些光譜方法適用於研究固體的表面組成
(A)AES
(B)NMR
(C)AAS
(D)XRF。

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詳解 (共 1 筆)

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