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試卷資訊

試卷名稱：114年 - 03002 化學─無機物檢驗甲級工作項目 02：無機微量分析 101-150（2025/10/21 更新）#132506

年份：114年

科目：技檢◆化學-無機物檢驗-甲級

102. 下列敘述，何者正確？
(A)光學顯微鏡：使用可見光，可分析晶體結構及化學成分分析
(B)X 光繞射分析儀：使用 X 光，鑑別率約為 1^μm ，可分析化學鍵能強弱
(C)電子顯微鏡：使用電子束，可觀察微細結構，分析化學鍵能強弱
(D)電子顯微鏡：使用電子束，可觀察微細結構，分析晶體結構及作化學成分分析。

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詳解 (共 1 筆)

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B1 · 2025/10/28

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