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17 下列有關粒子粒徑測定法之描述何者正確？
(A)一般鏡檢法範圍 0.5 ~ 100 µm
(B)過篩分析法範圍 0.5 ~ 100 µm
(C)沈降法範圍 0.5 ~ 1000 µm
(D)電阻法（coulter counter）範圍 0.5 ~ 1000 µm

答案：A
難度： 困難

	1F 小賢子高三下 (2017/09/27) (A) Optical Microscopy: 0.5~100 µm (B) Sieve analysis: 50~5000µm (C) Sedimentation 0.5~100µm 檢舉
	2F hogebrad 小一下 (2019/04/24) coulter counter 我谷哥到是 0.4~1600µm 檢舉
	3F 柴高三上 (2022/01/18) 過篩50~5000 鏡檢光學:0.5~100 電子: 0.005~1 氣體穿透 5~100 氣體吸附 0.005~20 Coulter Counter 1~100 沉降 2~50 檢舉

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