試題詳解

17 以掃描式電子顯微鏡/X-射線能譜分析儀進行無機物分析，可獲得待測物證重要資訊，下列敘述何者正確？
(A)二次電子的發射強度隨樣品所含元素原子序之增加而增強
(B)背向散射電子經影像轉換後，即可觀察樣品的表面形態
(C)二次電子及背向散射電子信號可用來作為高倍率的顯微觀察
(D)不同元素產生之 X-射線能量均不同，一般用於樣品之破壞性元素定性及定量分析