19 化合物的 OH 基與溶媒產生氫鍵（hydrogen bonding），則下列相關敘述何者錯誤？
(A)OH 基的質子周圍的電子密度會下降
(B)OH 基的質子的化學位移值會增加
(C)氫鍵愈強訊號峰出現在氫譜的愈左邊
(D)氫鍵太強會導致 OH 基質子的訊號消失

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統計： A(407), B(254), C(395), D(2069), E(0) #411450

詳解 (共 10 筆)

#1423038
(D)應該是加強訊號
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#2179712

仔細看ABC都在講同一件事情

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#3289505
形成氫鍵: 是和F、O、N(陰電性強)發...
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#2299398

to 2F

(B)化學位移增加 應該是去遮蔽效應(因為被拉電子，質子周圍電子密度下降)

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#1025455
(D)氫鍵太強不會導致 OH 基質子的訊...
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#5330712
問學校老師是說 氫鍵強弱是讓位置左移 ...
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#5454299
最佳解內容不算完全正確 氫鍵的出現穩定...
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#3153277
想請問一下D選項是會加強還是不影響呢?我...
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#5456097
溫度愈高氫鍵愈不容易形成
反之溫度若愈低（如-45度C)，氫鍵較易形成，也就不容易產生質子交換，因此就會去和別的質子偶合，故應該是影響訊號峰分不分裂
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#1188042
(A)貝拉電子
(B)OH 基的質子的化學位移值會增加 :有遮蔽效應
(C)位移大
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