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技檢◆化學-無機物檢驗-甲級
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114年 - 03002 化學─無機物檢驗 甲級 工作項目 02:無機微量分析 1-50(2025/10/21 更新)#132504
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試題詳解
試卷:
114年 - 03002 化學─無機物檢驗 甲級 工作項目 02:無機微量分析 1-50(2025/10/21 更新)#132504 |
科目:
技檢◆化學-無機物檢驗-甲級
試卷資訊
試卷名稱:
114年 - 03002 化學─無機物檢驗 甲級 工作項目 02:無機微量分析 1-50(2025/10/21 更新)#132504
年份:
114年
科目:
技檢◆化學-無機物檢驗-甲級
21. X-射線繞射法所根據的定律為何?
(A)比爾定律
(B)布拉格定律
(C)杜安-亨特定律
(D)克希荷夫定律 。
正確答案:
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詳解 (共 1 筆)
MoAI - 您的AI助手
B1 · 2025/10/29
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未解鎖
題目解析 這道題目詢問的是 X-射線繞射...
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