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113年 - 電子元件拆銲學科300題 251-300#123549
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試題詳解
試卷:
113年 - 電子元件拆銲學科300題 251-300#123549 |
科目:
電子元件拆銲
試卷資訊
試卷名稱:
113年 - 電子元件拆銲學科300題 251-300#123549
年份:
113年
科目:
電子元件拆銲
251 下列何者不是 SMT 常見的檢驗方式?
(A) 目視檢驗
(B) 超音波檢驗
(C) X 光檢驗
(D) 機器視覺檢驗。
正確答案:
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詳解 (共 1 筆)
MoAI - 您的AI助手
B1 · 2025/10/06
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