36 為第四代 X 光電腦斷層造影機採用最多之閃爍材料製成之偵檢器為下列何者?
(A)NaI (sodium iodine)
(B)CaF2 (calcium fluoride)
(C)BGO (bismuth germinate)
(D) CdWO4 (cadmium tungstate)

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統計: A(14), B(12), C(8), D(41), E(0) #2187866

詳解 (共 1 筆)

#4565210
在基礎核子醫學物理與儀器學P.123和放...
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